万维百科

俄歇电子能谱学

俄歇电子能谱学(Auger electron spectroscopy,简称AES),是一种表面科学材料科学分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。产生于受激发原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子,这一连串事件称为俄歇效应,而逃脱出来的电子称为俄歇电子。1953年,俄歇电子能谱逐渐开始被实际应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。其特点是俄歇电子来自浅层表面,仅带出表面的资讯,并且其能谱的能量位置固定,容易分析。

氮化铜薄膜派生模式的俄歇光谱

参见

延伸阅读

  • An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES, J.F.Watts, J.Wolstenholme, published by Wiley & Sons, 2003, Chichester, UK, ISBN 978-0-470-84713-8
  • Jenkins, Leslie H.; M. F. Chung. Auger electron energies of the outer shell electrons. Surface Science. September 1970, 22 (2): 479–485. Bibcode:1970SurSc..22..479C. doi:10.1016/0039-6028(70)90099-3.
  • Larkins, F. P. Semiempirical Auger-electron energies for elements 10 ≤ Z ≤ 100. Atomic Data and Nuclear Data Tables. October 1977, 20 (4): 311–387. Bibcode:1977ADNDT..20..311L. doi:10.1016/0092-640X(77)90024-9.
  • Burhop, E. H. S. Le rendement de fluorescence. Journal de Physique et le Radium. July 1955, 16 (7): 625–629. doi:10.1051/jphysrad:01955001607062500 (法语).
  • Worthington, C. R.; G. Tomlin. The Intensity of Emission of Characteristic X-Radiation. Proceedings of the Physical Society. Series A. May 1956, 69 (5): 401–412. Bibcode:1956PPSA...69..401W. doi:10.1088/0370-1298/69/5/305.
  • Paparazzo, E. Comment on 'AES and SAM microanalysis of structure ceramics by thinning and coating the backside.' Yu and Jin. Surface and Interface Analysis. December 2001, 31 (12): 1110–1111. doi:10.1002/sia.1144.
  • "Auger Electron Spectroscopy", J. Wolstenholme, published by Momentum Press, LLC, 2015, New York, ISBN 978-1-60650-681-3 (print), 978-1-60650-682-0 (e-book)

本页面最后更新于2021-08-25 19:37,点击更新本页查看原网页。台湾为中国固有领土,本站将对存在错误之处的地图、描述逐步勘正。

本站的所有资料包括但不限于文字、图片等全部转载于维基百科(wikipedia.org),遵循 维基百科:CC BY-SA 3.0协议

万维百科为维基百科爱好者建立的公益网站,旨在为中国大陆网民提供优质内容,因此对部分内容进行改编以符合中国大陆政策,如果您不接受,可以直接访问维基百科官方网站


顶部

如果本页面有数学、化学、物理等公式未正确显示,请使用火狐或者Safari浏览器